隨著科學技術的發展，電路板中帶有程式的晶片越來越多。而且這種晶片內部程式出現毛病，造成電路板不能工作是常見的。

當我們遇到上述問題時，為判斷是那個晶片（帶有程式的）出了毛病，往往要與好板子上的對應晶片做比較。

帶有程式的晶片的好壞比較的正確方法是這樣的：首先將好的晶片內部程式用程式設計器讀出來，儲存起來（一定要先儲存再比較）。然後與壞板子的晶片進行對比。發現有問題，再複製一個即可。

但是，實際情況不象上面敘述的那樣。因為種種原因（如在現場，有時好板子不能帶離原裝置，所用程式設計器不支援該晶片，等等）不能讀取與比較它們。此時就只能在好壞板子藉助於裝置上進行了。其實我們也常這樣去做。

這樣去做，對於EPROM（紫外線擦除程式）晶片，沒有任何問題的。可是對於大部分的電擦除的晶片（如EEPROM等）就不是那麼簡單了。

對於電擦除的晶片不同於EPROM，它內部的程式很易被外部不正常電壓所改寫。這也是它比EPROM較愛出錯的主要原因。為此，對它的檢查處理將會帶來麻煩！

對於有電擦除晶片的故障電路板，如果懷疑這類晶片的程式有問題或這類晶片本身有毛病時。為了驗證它們，可能要在好壞板子之間進行交換對比。

那麼，這種交換對比應該如何進行呢？是將懷疑晶片插到好板子上試，還是把沒問題的晶片放到壞板子上試呢？前者如果懷疑的晶片被破壞的較嚴重，它是否會影響和改變好板子的其它程式或狀態呢？而後者是還搞不清壞板子是如何改變了懷疑晶片的程式呢，也就是說還沒找到原因，這樣做，是否又會把好的晶片中的程式改寫了呢？

上面談到的情況，致使電路板原來故障還沒排除又增新毛病，有時還可能造成好的板子不能工作了，業內均有發生。

這個棘手的問題！該如何解決呢？