晶體振動通常分為兩種型別：無源晶體振動和有源晶體振動。無源晶體振動通常被稱為

crystal（晶體），而有源晶體振動稱為oscillator（振盪器）。

晶振測試

有源晶體振盪器是一種完整的諧振振盪器，利用石英晶體的壓電效應，因此有源晶體振盪器需要電源。當我們完成有源晶體振盪器電路時，它可以主動產生振盪頻率，並提供高精度的頻率基準。訊號質量優於無源訊號。

無源晶體振盪本身不能振盪。它需要晶片中的振盪電路一起工作。它允許不同的電壓，但訊號質量和精度比有源晶體振盪差。無源晶振比有源晶振便宜得多。無源晶體振動的兩側通常有兩個電容，一般選擇

10個電容pF~40pF之間，如果手冊中有特定電容尺寸的要求，則應根據要求選擇電容。如果沒有要求，我們將使用20pF是比較好的選擇，這是一個長期的經驗值，具有非常普遍的適用性。

有源晶振通常有四個引腳，

VCC，GND，晶振輸出引腳和未使用的懸掛引腳。無源晶體振動有兩個或三個引腳，如果是三個引腳，中間引腳是晶體振動的外殼，使用時接收到GND，兩側的引腳是晶體的兩個引腳，兩個引腳的作用是相同的，就像電阻的兩個引腳一樣，沒有正負之分。對於無源晶體振動，我們可以在微控制器上連線兩個晶體振動引腳，而有源晶體振動只連線到微控制器晶體振動的輸入引腳，不需要連線輸出引腳。

有源晶體振盪器和無源晶體振盪器統稱為晶體振盪器，屬於同一電子元件，但有源晶體振盪器和無源晶體振盪器在各方面存在較大差異。首先，形狀不同。有源晶體振盪器有凹槽，通常沒有無源晶體。前者可以在沒有外部電源的情況下振盪，而後者則不能。此外，還有一套測量方法來檢測有源晶體振動是好是壞，主要包括測量電阻法、測量電容量法和測試電路。

電路匹配：

振盪電路是一種振盪電流，可以隨週期產生大小和方向的變化。振盪電流電路稱為振盪電路。

激勵電平：

調整電路中的串聯電阻

Rd

調整振盪電路對晶體振盪輸出的激勵電平。

負阻抗過大，增加

Rd

，增加電路的整體阻抗；負阻抗太小，降低

Rd

，使整個電路阻抗變小。在晶片中應控制負阻抗

ESR3~20

倍之間。

焊接：

由於焊接溫度過高或時間過長，晶體振動內部電氣效能指標異常，導致無振動。晶振分為手工焊接和機器焊接

（

波峰焊和迴流焊

）

。手工焊接溫度控制在

350

℃

/3s

或者

260

℃

/5s

。

其他因素：

透過交叉試驗，可以判斷晶體是否損壞。如果是個別損壞，應考慮

IC

驅動功率是否設定好；如果是批次損壞，應考慮驅動功率是否過大。若在電路除錯階段發現少量晶體無振動現象，則可能存在晶體批次質量問題。如果晶體質量有問題，建議交給供應商進行質量分析。

從晶體振盪器測量的角度來看，該計算方法不適用於非線性晶體振盪器的測試，因為測量程度取決於晶體振盪器的特性，而且差異很大。如果有其他適用的測試方法，則應放棄該方法

。

晶振是一種頻率元件，顧名思義，我們可以想象頻率是其中的主導因素

。

作為一名頻率元件推銷員，有時會遇到一些客戶不知道需要什麼頻率，或者不知道頻率是多少

。

晶體振動還有一個問題，那就是測試。電路設計好之後，如何測試晶振電路是否滿足設計要求呢？

在鴻怡電子測試座的實際應用中，結合實際情況，具體來說，晶體本身的原因是：晶體碎片、寄生、

DLD

阻抗過大，頻率不好，晶體牽引力不足或過大。

晶振socket測試座如何選擇呢？（小編整理了市場上比較受歡迎的5款，整理不易僅供參考）

1、2546光耦晶振測試座socket

PIN腳：4pin

引腳間距：1。27mm

尺寸：2。5×4。6mm

2、2520貼片晶振探針老化測試座socket

PIN腳：4pin

尺寸：2。5×2。0mm

3、3225晶振翻蓋探針頻率socket測試座

PIN腳：4pin

尺寸：3。2×2。5mm

4、5032晶振探針老化測試座socket

PIN腳：4pin

尺寸：5。0×3。2mm

5、7050貼片晶振探針老化socket測試座

PIN腳：4pin

尺寸：7。0×5。0mm